二次元测量检测仪器设备Z 轴增加测头或激光位移传感器等设备后还可对 3D 图形元素如圆柱、圆锥、圆球、以及三维空间内的面进行测量。根据元素的实际特征,每种元素可采用多种不同的方法测量。寻边结束即可直接获取出元素的坐标值、长度、面积、体积等数据。
支持镜头畸变补偿,有效降低因镜头畸变带来的测量误差
将传统像素校准、中心补偿与畸变校准算法集成在一起,可一键解决标定问题
支持移动式工作机台拼接测量,并提供多种补偿方式,提升机台精度与稳定性
寻边和过滤算法,大幅提升边缘抓取的稳定性
亚像素算法,显著提升边缘精准度与重复性
深入优化的定位与补偿算法,极大缩短绝对测量时间,真正实现闪测效果
根据不同用户偏好,支持多种数据结果呈现格式
特征匹配算法,支持复杂特征匹配与多工件测量
支持按比例保存拼接后的捕获的源图,源图可供客户其它分析使用
二次元测量检测仪器设备技术参数
规格型号 | TOCK-432PT-H |
量测范围(XYZ) | 400X300X200 |
重量 | 280KG |
承重 | 30KG |
传动方式 | V导轨+光轴 |
平台、底座材质 | 高精度花岗岩00级(山东济南青) |
XY 精度 | (3+L/200)μm |
光栅尺分辨率 | XYZ:0.5μm |
镜头 | 4K高清镜头 |
镜头倍率 | 光学放大倍率:0.7X-4.5X |
CCD影像 | 1/1.8靶面尺寸 200万像素彩色CCD |
光源 | LED白色近平行光+上光源 (软件和手动两种控制方式) |
量测软件 | INS-M |